項(xiàng)目簡介
小角X射線散射：在散射角2θ接近0°時(shí)，對樣品的X射線散射強(qiáng)度進(jìn)行測量，以獲取納米到微米量級上的分子結(jié)構(gòu)信息。
廣角X射線散射：測量散射角2θ大于5°。
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